光譜輻射亮度計在低亮度下也能快速測量

　　隨著(zhù)高清電視時(shí)代的全面開(kāi)啟，為了更好地還原明亮、明亮、高分辨率的圖像，一些更高質(zhì)量的全高清顯示設備的開(kāi)發(fā)也在加速推進(jìn)。目前先進(jìn)的技術(shù)可以達到100,000:1的對比度，畫(huà)面會(huì )給你更真實(shí)的體驗。由于需要可以測量低亮度的儀器，因此在再現一些“比黑色更暗”的圖像時(shí)存在技術(shù)瓶頸。此外，一些其他類(lèi)型的發(fā)光元件也在迅速發(fā)展。例如，有機電致發(fā)光與傳統的LCD和PDP顯示器一樣，??需要更高精度的光譜輻射曲線(xiàn)分析。光譜輻射亮度計的極低亮度測量達到了很高的水平，低為0.003cd/m2，最高測量對比度可達100,000:1。

　　光譜輻射亮度計采用*的雙CCD探測器技術(shù)，一次采樣即可獲得平面上百萬(wàn)點(diǎn)的亮度值，并能準確測量瞄準點(diǎn)的光譜和顏色信息。以其優(yōu)異的性能，廣泛應用于路面、景觀(guān)、儀表盤(pán)及指示燈、背光源、顯示器、光源及發(fā)光器件、影視、交通信號標志、建筑、大氣光度等亮度領(lǐng)域均勻度、色度參數測試。
 

　　光譜輻射亮度計由視場(chǎng)光闌、孔徑光闌、濾光片、陷波探測器和高精度I/V轉換器組成。特別是陷阱探測器采用三個(gè)硅光電二極管按一定結構排列，入射光在其中可以多次反射和吸收，以減少單片硅光電二極管的表面反射率對測量精度的影響。三片式結構還可以降低單個(gè)器件對輻射的偏振敏感度，從而最大限度地降低由此引起的輻射測量的不確定度，本實(shí)用新型可以實(shí)現對光源的高精度檢測，不確定度小于1%。

　　1、即使在低亮度下也能保證快速測量

　　儀器*的設計*消除了機械和電路噪聲，即使在低亮度下也能進(jìn)行快速、可重復的測量。

　　2、偏振誤差低

　　使用反射式衍射光柵引起的偏振誤差降低到僅2%。這保證了液晶顯示器等使用偏光片的顯示設備測量數據的穩定性。

　　3、只有5nm半波寬

　　儀器只有5nm半波寬，滿(mǎn)足色度測量要求，保證在整個(gè)可見(jiàn)光波長(cháng)范圍內的色度精確測量。

　　4、可選擇的測量角度可以測量非常小的區域。

　　可以根據您不同的應用對象選擇不同的光學(xué)測量角度。